Hình 2 – Hình vẽ sử dụng kính lọc hấp thụ và mẫu màu trắng phản xạ hay chuẩn thiết bị để kiểm tra độ nhạy phổ của thiết bị thu nhận

6.3.2.1. Nếu thiết bị được dự định để đo các vật liệu có các màu khác thì các kính lọc hấp thụ thích hợp cần bao gồm các kính có màu tương tự. Việc khuyến cáo kiểm tra độ nhạy đối với bức xạ hồng ngoại bằng cách sử dụng kính lọc ánh sáng hồng ngoại hấp thụ để biết giá trị Qd được khi dùng kính lọc có nhỏ hay không.

CHÚ THÍCH 3: Một vài sự phối hợp của nguồn sáng với thiết bị thu nhận có xu hướng nhạy cảm với bức xạ hồng ngoại. Một kính lọc sóng dài hấp thu với bước sóng của ánh sáng truyền qua 715nm sẽ thích hợp để dùng. Giá trị Qd đo được khi sử dụng kính lọc này theo lý thuyết phải bằng 0, nhưng bằng -3 đến mcd.m^-2.lx^-1 là chấp nhận được.

6.3.3. Thiết bị thu nhập có thể ở tại vị trí vô cùng về quang học hay tại một khoảng cách xác định so với vùng đo, và góc quan sát cần có giá trị là (2,29 ± 0,05)⁰, được xác định từ tâm của vùng đo. Hình 3 là sơ đồ cấu hình quang. Góc quan sát có thể được kiểm tra bằng ánh sáng đi qua cổng chắn khe mở tại thiết bị thu nhận khi sử dụng một khung có các lỗ và đích ngắm như mô tả trên Hình 4. Đối với thiết bị không chuẩn trực, các lỗ này cần ở vị trí tương ứng với trung của vùng đo.

CHÚ THÍCH 4: Để truyền ánh sáng qua cổng chắn che mở tại thiết bị thu nhận cần có khe mở ở phản xạ kế. Điều này cần được thực hiện theo chỉ dẫn của nhà chế tạo phản xạ kế.

Hình 3 – Hình vẽ sơ đồ hình quang học của phản xạ kế: a) Góc và khe hở của phản xạ kế xách tay không chuẩn trực; b) Góc và khe hở của phản xạ kế xách tay chuẩn trực

...

...

...

6.3.4. Khi được xác định từ tâm vùng đo nên khe mở của thiết bị nhận không được lớn hơn các dây cung 20 min (0,33⁰) theo cả hướng ngang va hướng đứng. Đối với thiết bị trực chuẩn, loại khung như trên hình 4 cũng có thể được dùng để đo góc khe mở khi đích ngắm biểu thị các kích thước tối đa.

CHÚ THÍCH 5: Các kích thước khe ngắm tối đa của thiết bị thu nhận cần phù hợp với CEN EN 1436.

6.3.5. Độ ổn định chung về các thông số đầu ra của nguồn sáng và của thiết bị thu nhận phải sao cho kết quả đo không thay đổi nhiều hơn ± 1 % sau 10 giây khi phản xạ kế tiếp xúc với vạch kẻ đường và sẵn sàng để đo.

6.3.6. Độ tuyến tính thang trắc quang của phản xạ kế trong khoảng giá trị đo mong đợi cần nằm trong khoảng 2%. Các hệ số  hiệu chỉnh có thể được dùng để bảo đảm sự tuyến tính của độ nhạy. Phương pháp đo để xác định độ tuyến tính được đưa ra trong phụ lục A2 của ASTM E 809.

6.3.7. Phản xạ kế cần có khả năng cho phép điều chỉnh vè 0 hay có chức năng tự động điều chỉnh về 0.

6.4. Cấu hình đo

6.4.1. Vùng được ghi nhận cũng có thể nằm trọn vẹn trong vùng chiếu sáng (cách bố trí A) hoặc vùng chiếu sáng cần nằm trọn vẹn trong vùng được ghi nhận (cách bố trí B).

CHÚ THÍCH 6: Cách bố trí A có lợi hơn so với cách bố trí B ở chỗ nó cho độ lệch của giá trị Qd đo được nhỏ hơn khi phản xạ kế có những độ nghiêng nhỏ là điều không tránh khỏi trong thực tế đo đạc tại hiện trường.

6.4.2. Vùng nhỏ hơn trong 2 vùng, được ghi nhận hay được chiếu sáng, là vùng đo và ít nhất phải có diện tích là 50 cm². Xem hình 5 để biết phương pháp đo vùng này.

...

...

...

Hình 5 – Hình vẽ mô tả với ánh sáng đi qua cổng khe mở ở thiết bị thu nhận, vùng đo và vùng được chiếu sáng được chiếu lên một tấm đặt trên chân của thiết bị

6.4.3. Vùng lớn hơn trong 2 vùng, được chiếu sáng hay được ghi nhận, cần đủ lớn và có các đặc tính đồng nhất về mặt không gian (kể cả ánh sáng chiếu hay độ nhạy) sao cho các giá trị Qd đo được trên bề mặt phản xạ không nhẵn sẽ chỉ lệch nhau tối đa là ± 10% khi độ cao H giữa bề mặt và phản xạ kế thay đổi từ 0 mm đến -1 mm, 1 mm hay 2mm. Phép đo này nên được thực hiện trong bóng tối. Xem Hình 6 để biết phương pháp đo độ lệch này.

CHÚ THÍCH 8: Sự thay đổi độ cao và độ nghiêng của phản xạ kế là không thể tránh khỏi khi đo thực tế tại hiện trường do cấu tạo bề mặt, các loại hạt trên bề mặt, độ cong theo chiều đứng hay biến dạng của vạch kẻ đường. Phản xạ kế phải có một số tính năng dự phòng để khắc phục các điều kiện thực tế đó. Các vạch có biến dạng đòi hỏi cả khoảng dự phòng rộng hơn khi biến dạng của chúng lớn hơn 2 mm, để có thể đo các giá trị Qd của các vạch kẻ đường đó một cách tin cậy.

Hình 6 – Hình vẽ mô tả phép thử nâng cao phản xạ kế cầm tay. Đối với cách bố trí A (vùng đo nằm trọn vẹn trong vùng được chiếu sáng), phản xạ kế được dịch lùi trở lại theo tỷ lệ với độ cao H để giữ cho vùng đo nằm tại vị trí cố định trên bề mặt.

7. Chuẩn hóa

7.1. Phản xạ kế phải được chuẩn hóa bằng cách sử dụng chuẩn thiết bị có một tấm riêng biệt hoặc chuẩn thiết bị khác có hệ số phát sáng đã biết và có độ tái lập. Hệ số này là ổn định và được đo ở cùng cấu hình như được sử dụng trong phản xạ kế cầm tay. Chuẩn thiết bị cần được định chuẩn bằng ánh sáng chiếu khuếch tán từ một mặt hình cầu trắc quang có kích thước phù hợp, được chiếu sáng gián tiếp. Các thông tin cần thiết được ghi chú trên chuẩn thiết bị. Chuẩn thiết bị cần có giá trị chuẩn của hệ số phát sáng Qd khi chiếu sáng khuếch tán nằm trong khoảng giá trị của các vạch kẻ đường mong đợi. Giá trị chuẩn cần phải ổn định khi kiểm tra so sánh với những chuẩn khác hay khi chuẩn định thường xuyên để bảo đảm rằng không có độ sai lệch lớn xảy ra. Xem Hình 7 để biết phương pháp tạo ánh sáng chiếu khuếch tán lên mẫu.

...

...

...

7.2. Tiếp theo sự chuẩn hóa này, có thể sử dụng bề mặt chuẩn nội hoặc chuẩn thứ cấp để duy trì sự chuẩn hóa của thiết bị trong những khoảng thời gian ngắn khi vận chuyển đến hiện trường.

7.3. Chú ý rằng việc vận chuyển thiết bị từ chỗ có điều hòa không khí đến hiện trường có thể làm mờ các gương hoặc các mặt thủy tinh (nếu có) trong thiết bị. Nếu có điều gì nghi vấn liên quan đến việc chuẩn định hay các kết quả không ổn định, cần để thiết bị đạt các điều kiện môi trường và chuẩn bị lại bằng chuẩn thiết bị.

8. Cách tiến hành

8.1. Cần tuân theo hướng dẫn vận hành của nhà chế tạo thiết bị, trong đó nói chung có sử dụng quy trình sau:

8.1.1. Nhiệt độ môi trường không được thấp hơn 4⁰C.

8.1.2. Bề mặt vạch kẻ đường phải sạch và khô ráo.

8.1.3. Bật phản xạ kế và để thiết bị đạt trạng thái cân bằng theo hướng dẫn của nhà chế tạo.

8.1.4. Nếu phản xạ kế có khả năng cho phép điều chỉnh về 0, đặt màn hình hiển thị về giá trị 0±2 với 2 chữ số có nghĩa nhỏ nhất trong khi thiết bị được đặt trên một tấm màu rất đen có độ phản xạ thấp.

8.1.5. Nếu một tấm chuẩn hay chuẩn thiết bị khác được sử dụng, chuẩn định thiết bị bằng cách đặt nó lên chuẩn thiết bị và khởi động điều khiển quá trình chuẩn định về giá trị chuẩn.

...

...

...

8.1.7. Đặt phản xạ kế vuông góc trên vật liệu vạch kẻ đường, bảo đảm sao cho vùng của phản xạ kế nằm vừa trong khoảng chiều rộng của vạch. Hướng đo của phản xạ kế cần được đặt theo hướng xe chạy. Đối với vạch trung tâm, cần thực hiện phép đo riêng cho mỗi hướng xe chạy.

8.1.8. Ghi lại kết quả hiển thị trên phản xạ kế, sau đó chuyển thiết bị đến các vị trí khác trên vạch kẻ đường đủ cách xa nhau để thu được các số liệu có ý nghĩa (thường cách nhau 1m) và ghi lại các kết quả.

8.1.9. Cứ trong khoảng thời gian 1 giờ hay ít hơn, kiểm tra lại sự chuẩn định và căn chỉnh lại sự cài đặt nếu giá trị của cả chuẩn nội lẫn chuẩn thiết bị thay đổi quá 5%.

9. Báo cáo thử nghiệm

9.1. Bảng báo cáo kết quả kiểm tra cần có các thông tin sau:

9.1.1. Ngày kiểm tra

9.1.2. Kết quả trung bình tại mỗi vị trí đo, tính theo mcd.m^-2.lx^-1. Đối với vạch trung tâm, cần báo cáo kết quả trung bình cho mỗi hướng xe chạy.

9.1.3. Vị trí địa lý của hiện trường đo, bao gồm khoảng cách kể từ nơi nhận dạng hiện trường cố định gần nhất như cột mốc hành trình hay giao lộ.

9.1.4. Nhận dạng vật liệu vạch kẻ đường được kiểm tra: chủng loại, màu sắc, thời gian đã dùng và vị trí theo chiều ngang trên đường (vạch mép đường, vạch thứ nhất, vạch thứ hai và vạch trung tâm).

...

...

...

9.1.6. Giá trị và số liệu chuẩn định của chuẩn thiết bị hay chuẩn khác được dùng.

9.1.7. Các nhận xét có liên quan đến tất cả các điều kiện của vạch kẻ đường như vệt mài cao su, nhựa đường phủ lên, các hư hỏng do quá trình gạt tuyết và các yếu tố khác có thể gây ảnh hưởng đến phép đo phản xạ.

9.1.8. Nhiệt độ môi trường.

10. Nguồn sai số

10.1. Có nhiều yếu tố gây nên sự sai lệch khi đo tại hiện trường. Một vài yếu tố này là:

10.1.1. Những thay đổi nhỏ về vị trí của phản xạ kế trên làn đường có thể dẫn đến những kết quả khác nhau.

10.1.2. Vạch kẻ đường nằm ngang có thể cho kết quả ít đồng nhất hơn so với vạch nằm dọc. Vạch nằm ngang có độ mài mòn cao ở vùng chịu vết bánh xe và độ mài mòn thấp ở vùng không chịu vết bánh xe.

10.1.3. Sự phân bố và độ trong của bi thủy tinh sẽ gây ảnh hưởng đến kết quả đo.

10.1.4. Hàm lượng bột màu trong chất tạo màng, mặt đường, chất bẩn, muối, bụi, nước, … sẽ có ảnh hưởng đến kết quả đo.

...

...

...

11. Độ chụm và độ chệch

Những dữ liệu này nằm trong tiến trình đo đạc.

MỤC LỤC

Lời nói đầu ...........................................................................................................................

1. Phạm vi áp dụng ...............................................................................................................

2. Tài liệu viện dẫn .................................................................................................................

3. Thuật ngữ và định nghĩa .....................................................................................................

4. Tóm tắt phương pháp thử nghiệm ......................................................................................

...

...

...

6. Thiết bị, dụng cụ ................................................................................................................

7. Chuẩn hóa .........................................................................................................................

8. Cách tiến hành ...................................................................................................................

9. Báo cáo thử nghiệm ..........................................................................................................

10. Nguồn sai số ...................................................................................................................

11. Độ chụm và độ chệch ......................................................................................................