6.2  Thử nghiệm cơ khí

6.2.1  Rung

6.2.1.1  Mục đích

Thử nghiệm này được thực hiện để mô phỏng rung đến các pin có thể xảy ra trong vận hành bình thường của phương tiện giao thông, và để xác nhận tính năng an toàn của pin trong các điều kiện như vậy.

6.2.1.2  Thử nghiệm

Thử nghiệm phải được thực hiện theo 6.1.1.1 của TCVN 12241-2:2018 (IEC 62660-2:2018).

6.2.1.3  Tiêu chí chấp nhận

Trong thử nghiệm, pin không được cho thấy có rò rỉ, thoát khí, nứt vỡ, cháy hoặc nổ.

6.2.2  Xóc cơ khí

...

...

...

Thử nghiệm này được thực hiện để mô phỏng xóc cơ khí đến các pin có thể xảy ra trong vận hành bình thường của phương tiện giao thông, và để xác nhận tính năng an toàn của pin trong các điều kiện như vậy.

6.2.2.2  Thử nghiệm

Thử nghiệm phải được thực hiện theo 6.1.2.1 của TCVN 12241-2:2018 (IEC 62660-2:2018).

6.2.2.3  Tiêu chí chấp nhận

Trong thử nghiệm, pin không được cho thấy có rò rỉ, thoát khí, nứt vỡ, cháy hoặc nổ.

6.2.3  Ép

6.2.3.1  Mục đích

Thử nghiệm phải được thực hiện mô phỏng các lực tải bên ngoài có thể gây biến dạng pin và để kiểm tra tính năng an toàn của pin trong các điều kiện này.

6.2.3.2  Thử nghiệm

...

...

...

a) Điều chỉnh SOC của pin đến 100 % đối với ứng dụng BEV, và đến 80 % đối với ứng dụng HEV theo 5.3.

b) Pin được đặt trên bề mặt phẳng cách điện và được ép với dụng cụ ép là một thanh hình tròn hoặc nửa hình tròn, hoặc hình cầu hoặc bán cầu có đường kính 150 mm. Nên sử dụng thanh hình tròn để ép pin hình trụ, và hình cầu để ép pin hình lăng trụ và kể cả pin phẳng hoặc pin dạng túi. Lực ép phải đặt theo hướng gần vuông góc với bản xếp lớp của các điện cực dương và âm bên trong pin. Lực phải được đặt vào xấp xỉ tâm của pin như thể hiện trên Hình 2. Tốc độ ép phải nhỏ hơn hoặc bằng 6 mm/min.

c) Lực phải được giải phóng khi xảy ra sụt áp đột ngột một phần ba điện áp ban đầu của pin, hoặc xảy ra biến dạng 15 % hoặc nhiều hơn của kích thước pin ban đầu, hoặc đặt vào một lực bằng 1 000 lần khối lượng của pin, chọn thời điểm nào xảy ra trước. Các pin vẫn phải được quan sát trong 24 h hoặc cho đến khi nhiệt độ vỏ giảm xuống 80 % độ tăng nhiệt lớn nhất.

a) Ví dụ về pin hình trụ

b) Ví dụ về pin hình lăng trụ

Hình 2 - Ví dụ về thử nghiệm ép

6.2.3.3  Kết quả thử nghiệm

Trong suốt thử nghiệm, pin không được có bằng chứng về việc cháy hoặc nổ.

...

...

...

6.3.1  Độ bền với nhiệt độ cao

6.3.1.1  Mục đích

Thử nghiệm này được thực hiện nhằm mô phỏng môi trường nhiệt độ cao mà pin có thể phải chịu trong sử dụng sai dự đoán được một cách hợp lý hoặc tai nạn của phương tiện giao thông, và để kiểm tra tính năng an toàn của pin trong các điều kiện này.

6.3.1.2  Thử nghiệm

Thử nghiệm phải được thực hiện như sau.

a) Điều chỉnh SOC của pin đến 100 % đối với ứng dụng BEV và đến 80 % đối với ứng dụng HEV theo 5.3.

b) Pin, được ổn định ở nhiệt độ phòng, phải được đặt trong trọng trường hoặc trong lò có lưu thông không khí. Nhiệt độ của lò phải được tăng lên với tốc độ 5 K/min đến nhiệt độ 130 °C ± 2 K. Pin vẫn phải ở nhiệt độ này trong 30 min trước khi dừng thử nghiệm. Sau đó, sau khi thiết bị gia nhiệt đã tắt nguồn, pin phải được theo dõi tiếp trong 1 h và vẫn để trong lò.

CHÚ THÍCH: Nếu cần, để tránh biến dạng, pin có thể được giữ trong thử nghiệm theo cách không làm ảnh hưởng đến mục đích thử nghiệm.

6.3.1.3  Tiêu chí chấp nhận

...

...

...

6.3.2  Chu kỳ nhiệt độ

6.3.2.1  Mục đích

Thử nghiệm này được thực hiện nhằm mô phỏng phơi nhiễm dự kiến với sự thay đổi môi trường nhiệt độ thấp và cao mà có thể gây ra dãn nở và co lại của các thành phần của pin, và để kiểm tra tính năng an toàn của pin trong các điều kiện như vậy.

6.3.2.2  Thử nghiệm

Phải thực hiện thử nghiệm theo 6.2.2.1.1 của TCVN 12241-2:2018 (IEC 62660-2:2018).

6.3.2.3  Tiêu chí chấp nhận

Trong suốt thử nghiệm, các pin không được cho thấy có bằng chứng về việc rò rỉ, thoát khí, nứt vỡ, cháy và nổ.

6.4  Thử nghiệm điện

Nếu cần, nhằm tránh biến dạng, pin có thể được giữ trong suốt thử nghiệm theo cách không làm ảnh hưởng đến mục đích của thử nghiệm.

...

...

...

6.4.1.1  Mục đích

Thử nghiệm này được thực hiện để mô phỏng ngắn mạch bên ngoài của pin, và để kiểm tra tính năng an toàn của pin trong các điều kiện này.

6.4.1.2  Thử nghiệm

Thử nghiệm phải được thực hiện theo 6.3.1.1 của TCVN 12241-2:2018 (IEC 62660-2:2018).

6.4.1.3  Tiêu chí chấp nhận

Trong suốt thử nghiệm, các pin không được cho thấy có bằng chứng của việc cháy và nổ.

6.4.2  Quá nạp

6.4.2.1  Mục đích

Thử nghiệm này được thực hiện để mô phỏng quá nạp của pin, và để kiểm tra tính năng an toàn của pin trong các điều kiện này.

...

...

...

Thử nghiệm phải được thực hiện như sau.

a) Điều chỉnh SOC của pin đến 100 % theo 5.3.

b) Tiếp tục nạp pin quá 100 % SOC với dòng điện nạp 1 I_t đối với ứng dụng BEV và 5 I_t đối với ứng dụng HEV ở nhiệt độ phòng sử dụng nguồn điện đủ để cung cấp dòng điện nạp không đổi. Thử nghiệm quá nạp phải được dừng lại khi điện áp của pin đạt đến 120 % điện áp lớn nhất do nhà chế tạo quy định, hoặc lượng điện áp đặt vào pin đạt đến tương đương 130 % SOC, chọn trường hợp xảy ra trước.

6.4.2.3  Tiêu chí chấp nhận

Trong suốt thử nghiệm, các pin không được cho thấy có bằng chứng của việc cháy và nổ.

6.4.3  Phóng điện cưỡng bức

6.4.3.1  Mục đích

Thử nghiệm này được thực hiện để mô phỏng phóng điện cưỡng bức của pin, và để kiểm tra tính năng an toàn của pin trong các điều kiện này.

6.4.3.2  Thử nghiệm

...

...

...

a) Điều chỉnh SOC của pin đến 0 % theo 5.3.

b) Tiếp tục phóng điện pin quá 0 % SOC với dòng điện nạp 1 I_t ở nhiệt độ phòng. Thử nghiệm phóng điện cưỡng bức phải được dừng lại khi giá trị tuyệt đối của điện áp của pin đạt đến 25 % hoặc nhỏ hơn của giá trị điện áp danh nghĩa do nhà chế tạo quy định, hoặc pin phóng điện trong 30 min, chọn trường hợp xảy ra trước.

6.4.3.3  Tiêu chí chấp nhận

Trong suốt thử nghiệm, các pin không được cho thấy có bằng chứng về việc rò rỉ, thoát khí, nứt vỡ, cháy và nổ.

6.4.4  Thử nghiệm ngắn mạch bên trong

6.4.4.1  Mục đích

Thử nghiệm này được thực hiện để mô phỏng ngắn mạch bên trong của pin gây ra do nhiễm bẩn các vật dẫn điện. v.v., và để kiểm tra tính năng an toàn của pin trong các điều kiện này.

CHÚ THÍCH: Phụ lục B đưa ra giải thích hữu ích về thử nghiệm ngắn mạch bên trong.

6.4.4.2  Thử nghiệm

...

...

...

Thử nghiệm phải được thực hiện trên pin theo 7.3.2 b) của IEC 62619, ngoài ra:

Khi đặt miếng niken giữa vùng phủ vật liệu hoạt động dương và vùng phủ vật liệu hoạt động âm, pin mạch bên trong của một lớp phải được khẳng định. Các điều kiện thử nghiệm quy định, ví dụ lực nén và hình dạng của đồ gá có thể thay đổi, nếu cần, để mô phỏng ngắn mạch bên trong của một lớp vỏ và điện cực của pin không được bị ép. Việc thay đổi phải được ghi lại.

Miếng niken có thể đặt vào thông qua vết rạch trên vỏ pin, mà không lấy lõi điện cực (cuộn dây, kiểu xếp lớp hoặc gấp) ra khỏi vỏ pin. Trong vỏ này, vị trí của miếng niken có thể không nằm chính giữa pin với điều kiện kết quả thử nghiệm không bị ảnh hưởng.

CHÚ THÍCH 1: Ngắn mạch bên trong của một lớp có thể được khẳng định bằng sụt áp vài mV.

CHÚ THÍCH 2: Trường hợp lá nhôm của cực dương lộ ra ở vòng ngoài cùng, và đối mặt với vật liệu hoạt động cực âm, miếng niken được đặt tại tâm của pin giữa vùng phủ vật liệu hoạt động cực âm và lá nhôm cực dương đặt tại điểm cuối cùng của vùng phủ vật liệu hoạt động cực dương theo hướng quấn dây. Vùng mà lá nhôm dương đối mặt với vật liệu hoạt động cực âm, nếu có, có thể được kiểm tra bằng bằng cách xem xét thiết kế, FMEA, v.v. theo thỏa thuận giữa khách hàng và nhà cung cấp pin.

6.4.4.2.2  Thử nghiệm thay thế

Các phương pháp thử nghiệm khác để mô phỏng ngắn mạch bên trong của pin do nhiễm bẩn của các vật dẫn điện có được lựa chọn nếu tiêu chí sau được thỏa mãn và có thỏa thuận giữa khách hàng và nhà cung cấp.

a) biến dạng của vỏ không được ảnh hưởng về nhiệt và điện đến ngắn mạch của pin. Năng lượng không được phân tán do ngắn mạch bất kỳ không phải ngắn mạch giữa các điện cực.

b) Ngắn mạch bên trong một lớp giữa điện cực dương và điện âm đều phải được mô phỏng.

...

...

...

d) Các vị trí ngắn mạch trong pin phải giống với mô tả trong 6.4.4.2.1.

e) Thử nghiệm phải có thể lặp lại (xem Bảng 1 của IEC 62619).

Các điều kiện và tham số thử nghiệm chi tiết của thử nghiệm thay thế phải được điều chỉnh trước khi thử nghiệm theo thỏa thuận giữa nhà chế tạo và nhà sản xuất pin, sao cho có thể đáp ứng được tiêu chí trên. Kết quả thử nghiệm phải được đánh giá bằng cách tháo pin, quan sát bằng tia X, v.v.

Nếu kết quả thử nghiệm cho thấy ngắn mạch bên trong của nhiều hơn một lớp, hoặc vùng ngắn mạch lớn thì thử nghiệm có thể được coi là thử nghiệm thay thế hợp lệ, với điều kiện thỏa mãn tiêu chí chấp nhận trong 6.4.4.3. Việc không đạt thử nghiệm thay thế không có nghĩa là không đạt trong thử nghiệm của 6.4.4 2.1, vì điều kiện thử nghiệm của thử nghiệm thay thế có thể khắc nghiệt hơn tiêu chí quy định.

CHÚ THÍCH 1: Trong trường hợp ngắn mạch bên trong không thể được mô phỏng, thử nghiệm là không hợp lệ và ghi lại dữ liệu thử nghiệm.

CHÚ THÍCH 2: Các ví dụ về thử nghiệm thay thế được cho trong IEC TR 62660-4.

6.4.4.2.3  Thay thế cho thử nghiệm trên pin

Trong trường hợp cụ thể để giảm nhẹ rủi ro liên quan đến quá nhiệt ở mức cao hơn mức của pin (tức là khối pin và môđun pin, khối pin/acquy và hệ thống pin/acquy), các thử nghiệm ngắn mạch bên trong ở mức pin có thể được thay bằng thử nghiệm thay thế ví dụ thử nghiệm tương đương chứng minh sự an toàn của hệ thống pin/acquy, nếu được thỏa thuận giữa khách hàng và nhà cung cấp. Như một thử nghiệm thay thế cho thử nghiệm ngắn mạch bên trong, thử nghiệm tương đương dùng cho khối pin và môđun được quy định trong IEC 62619.

CHÚ THÍCH: Thử nghiệm nhân bản trên khối pin/acquy đang được xem xét trong ISO 12405-3.

...

...

...

Trong suốt thử nghiệm, các pin không được cho thấy có bằng chứng về cháy và nổ.

Phụ lục A

(tham khảo)

Vùng hoạt động của các pin để sử dụng an toàn

A.1  Quy định chung

Phụ lục này giải thích cách xác định vùng hoạt động của pin để đảm bảo sử dụng an toàn của pin. Vùng hoạt động được quy định bởi các điều kiện nạp, ví dụ như giới hạn trên của điện áp nạp và nhiệt độ pin, để đảm bảo an toàn của các pin.

Nhà chế tạo pin cần quy định thông tin về vùng hoạt động trong quy định kỹ thuật của các pin, đối với các biện pháp phòng ngừa an toàn cho khách hàng ví dụ như nhà chế tạo của dãy pin/acquy và hệ thống pin/acquy. Thiết bị bảo vệ thích hợp và chức năng cũng cần được cung cấp trong hệ thống điều khiển pin/acquy để cho phép đối với những hỏng hóc có thể có của điều khiển nạp.

Các giới hạn vùng hoạt động được quy định cho an toàn tối thiểu, và khác với điện áp nạp và nhiệt độ để tối ưu tính năng của pin như tuổi thọ pin.

...

...

...

A.2.1  Quy định chung

Để đảm bảo sử dụng an toàn của pin, nhà chế tạo pin cần đặt giới hạn trên của điện áp và nhiệt độ của pin cần áp dụng trong quá trình nạp. Pin cần được nạp trong phạm vi dải nhiệt độ quy định (dải nhiệt độ tiêu chuẩn) ở điện áp không vượt quá giới hạn trên. Nhà chế tạo cũng có thể đặt dải nhiệt độ cao hơn hoặc thấp hơn dải nhiệt độ tiêu chuẩn, với điều kiện thực hiện các biện pháp an toàn, ví dụ như điện áp nạp giảm thấp. Vùng hoạt động có nghĩa là dải điện áp và nhiệt độ mà pin có thể được sử dụng một cách an toàn. Dòng điện nạp lớn nhất và giới hạn dưới của điện áp phóng cũng có thể được đặt cho vùng hoạt động.

Pin được sản xuất mới có thể áp dụng vùng làm việc như với pin ban đầu, nếu có cùng vật liệu điện cực, cùng chiều dày, thiết kế và tấm pin như với pin ban đầu, và nhỏ hơn 120 % dung lượng của pin ban đầu. Pin mới có thể được coi là pin trong cùng loạt sản phẩm.

A.2.2  Xem xét điện áp nạp

Điện áp nạp được đặt vào các pin sao cho thúc đẩy phản ứng hóa học trong quá trình nạp. Tuy nhiên, nếu điện áp nạp quá cao thì sẽ xảy ra phản ứng hóa học quá mức hoặc phản ứng phụ, và pin trở nên không ổn định về nhiệt. Do đó, quan trọng là điện áp nạp không bao giờ được vượt quá giá trị do nhà chế tạo pin quy định (tức là giới hạn trên của điện áp nạp). Trường hợp pin được nạp ở điện áp cao hơn giới hạn trên của điện áp nạp, lượng iôn lithium vượt quá được tách ra khỏi vật liệu hoạt động điện cực dương, và kết cấu tinh thể của nó có xu hướng vỡ ra. Trong các điều kiện này, khi ngắn mạch bên trong xảy ra, quá nhiệt có thể dễ xảy ra hơn so với khi pin được nạp trong vùng hoạt động xác định trước. Do đó, các pin không bao giờ được nạp ở điện áp cao hơn giới hạn trên của điện áp nạp.

Điện áp nạp giới hạn trên cần được đặt bởi nhà chế tạo pin dựa trên các thử nghiệm kiểm tra xác nhận, bằng cách thể hiện các kết quả, ví dụ, như sau:

- kết quả thử nghiệm kiểm tra xác nhận tính ổn định của kết cấu tinh thể vật liệu cực dương;

- kết quả thử nghiệm kiểm tra xác nhận sự chấp nhận ion lithium vào vật liệu điện cực âm khi pin được nạp ở điện áp nạp giới hạn trên;

- kết quả thử nghiệm kiểm tra xác nhận các pin được nạp ở điện áp nạp giới hạn trên được thử nghiệm bởi thử nghiệm an toàn trong Điều 6 ở giới hạn trên của dải nhiệt độ tiêu chuẩn, và tiêu chí chấp nhận của từng thử nghiệm được đáp ứng.

...

...

...

A.2.3.1  Quy định chung

Việc nạp tạo ra phản ứng hóa học và bị ảnh hưởng bởi nhiệt độ. Lượng phản ứng phụ hoặc điều kiện của phản ứng trong quá trình nạp tùy thuộc vào nhiệt độ. Việc nạp trong dải nhiệt độ thấp hoặc cao được coi là gây ra phản ứng phụ nhiều hơn và khắc nghiệt hơn trên quan điểm an toàn so với trong dải nhiệt độ tiêu chuẩn, trong khi đó điện áp nạp giới hạn trên được áp dụng một cách an toàn. Do đó, điện áp nạp và/hoặc dòng điện nạp cần được giảm đi từ điện áp nạp giới hạn trên và/hoặc dòng điện nạp giới hạn trên ở cả dải nhiệt độ thấp và dải nhiệt độ cao.

A.2.3.2  Dải nhiệt độ cao

Khi pin được nạp ở nhiệt độ cao hơn dải nhiệt độ tiêu chuẩn, tính năng an toàn của pin có xu hướng giảm do độ ổn định thấp hơn của các kết cấu tinh thể. Ngoài ra, trong dải nhiệt độ cao, quá nhiệt có xu hướng xảy ra khi có thay đổi nhiệt độ tương đối nhỏ.

Khi đó, việc nạp các pin trong dải nhiệt độ cao cần được khống chế như sau:

- khi nhiệt độ bề mặt của pin nằm trong dải nhiệt độ cao quy định bởi nhà chế tạo pin, áp dụng các điều kiện nạp cụ thể ví dụ như điện áp nạp thấp hơn và dòng điện nạp thấp hơn;

- khi nhiệt độ bề mặt của pin cao hơn giới hạn trên của dải nhiệt độ cao, pin không bao giờ được nạp với dòng điện nạp bất kỳ nào.

A.2.3.3  Dải nhiệt độ thấp

Khi pin được nạp ở dải nhiệt độ thấp, tốc độ vận chuyển khối lượng giảm và tốc độ ion lithium thâm nhập vào vật liệu điện cực âm trở nên thấp. Do đó, lithium kim loại dễ tích tụ trên bề mặt cácbon. Trong điều kiện này, pin trở nên không ổn định về nhiệt và dễ bị quá nóng và gây ra quá nhiệt. Ngoài ra, trong dải nhiệt độ thấp, việc chấp nhận các iôn lithium phụ thuộc nhiều vào nhiệt độ, Trong hệ thống pin/acquy lithium chứa nhiều pin nối tiếp nhau, việc tiếp nhận ion lithium của từng pin là khác nhau tùy thuộc vào nhiệt độ pin mà sẽ làm giảm tính an toàn của hệ thống pin/acquy.

...

...

...

- khi nhiệt độ bề mặt của pin nằm trong dải nhiệt độ thấp quy định bởi nhà chế tạo pin, áp dụng các điều kiện nạp cụ thể ví dụ như điện áp nạp thấp hơn và dòng điện nạp thấp hơn;

- khi nhiệt độ bề mặt của pin thấp hơn giới hạn dưới của dải nhiệt độ thấp, pin không bao giờ được nạp với dòng điện nạp bất kỳ nào.

A.3  Ví dụ về vùng hoạt động

Hình A.1 minh họa ví dụ điển hình của vùng hoạt động nạp điện. Trong dải nhiệt độ cao hơn hoặc thấp hơn dải nhiệt độ tiêu chuẩn, cho phép thay đổi pin với điều kiện sử dụng điện áp và/hoặc dòng điện nạp thấp hơn. Dải hoạt động có thể được quy định với dạng bước được thể hiện trên Hình A.1, hoặc với các đường chéo. Hình A.2 minh họa ví dụ về vùng hoạt động phóng điện.

T₁ - T₂: Dải nhiệt độ thấp

T₂ - T₃: Dải nhiệt độ tiêu chuẩn

T₃ - T₅: Dải nhiệt độ cao

Hình A.1 - Ví dụ về vùng hoạt động nạp điện của các pin lithium-ion điển hình

...

...

...

T₁ - T₂: Dải nhiệt độ thấp

T₂ - T₃: Dải nhiệt độ tiêu chuẩn

T₃ - T₄: Dải nhiệt độ cao

Hình A.2 - Ví dụ về vùng hoạt động phóng điện của các pin lithium-ion điển hình

Phụ lục B

(tham khảo)

Giải thích thử nghiệm ngắn mạch bên trong

B.1  Khái niệm chung

...

...

...

Tuy nhiên, không có thử nghiệm ngắn mạch nào chứng tỏ rằng khả năng quá nhiệt trong pin được giảm về không. Theo đó, rủi ro liên quan đến quá nhiệt của một pin cần được giảm nhẹ so với mức quy mô lớn hướng đến toàn bộ hệ thống (khối pin, môđun, khối pin/acquy hoặc phương tiện giao thông).

B.2  Ngắn mạch bên trong gây ra do nhiễm bẩn

Ngắn mạch bên trong của pin có nhiều khả năng có các nguyên nhân khác nhau từ quá trình sản xuất đến sử dụng trong phương tiện giao thông. Các thử nghiệm an toàn khác nhau trong tiêu chuẩn này được dự kiến để kiểm tra xác nhận an toàn cơ bản của pin khi gặp các hiện tượng ngắn mạch khác nhau (xem Bảng B.1).

Thử nghiệm ngắn mạch bên trong trong 6.4.4 được thiết kế riêng để mô phỏng nhiễm bẩn của vật dẫn điện trong các pin, thường xảy ra trong quá trình chế tạo. Nhiễm bẩn vật rắn là đặc biệt nghiêm trọng vì các vụ cháy pin/acquy lithium trên thị trường đều do chúng.

Bảng B.1 - Ví dụ về ngắn mạch bên trong pin

Chế độ

Nguyên nhân

Biện pháp phòng ngừa

Thử nghiệm

...

...

...

Nhiệt độ bất thường

Quy định điều kiện hoạt động

6.3.1 Độ bền ở nhiệt độ cao

Rung quá mức

6.2.1 Rung

Xóc quá mức (rơi hoặc va đập)

6.2.2 Xóc cơ khí

Ép in

6.2.3 Ép

...

...

...

Điều kiện nạp không đúng (nhiệt độ thấp hoặc dòng điện cao)

Quy định vùng hoạt động

^a

Quá nạp

6.4.2 Quá nạp

Quá phóng

6.4.3 Phóng điện cưỡng bức

Cân bằng vật liệu dương/âm không đúng

^a

...

...

...

Nhiễm bẩn vật dẫn điện

Kiểm soát quá trình

6.4.4 Thử nghiệm ngắn mạch bên trong

Bavia hoặc nới lỏng phần kim loại

^a

Rách tấm ngăn cách

^a

^a Thử nghiệm ngắn mạch bên trong của 6.4.4 cũng có thể bao gồm ngắn mạch bên trong gây ra do các nguyên nhân do vùng ngắn mạch nhỏ hơn hoặc tương tự.

Thử nghiệm trong 6.4.4.2.1 đề cập đến thử nghiệm ngắn mạch bên trong cưỡng bức (FISC) như quy định trong IEC 62619. Quy trình chi tiết của thử nghiệm FISC cũng được xác định trong IEC 62133 và IEC TR 62914. Thử nghiệm FISC được thực hiện với pin thử nghiệm trong đó miếng niken được đưa vào để mô phỏng điều kiện trường hợp xấu nhất của ngắn mạch bên trong. Cỡ quy định của miếng niken thể hiện vật nhiễm bẩn lớn nhất có thể chứa trong pin, và phát nhiệt lớn nhất giữa các điện cực. Nhiễm bẩn vật rắn gây ra ngắn mạch bên trong một lớp giữa điện cực dương và điện cực âm, mà có thể mô phỏng chỉ bằng thử nghiệm FISC. Đã kiểm tra xác nhận rằng các điều kiện nhiệt, hóa và điện của pin thử nghiệm đã qua xử lý là tương đương với pin chưa qua xử lý, và không ảnh hưởng đến kết quả thử nghiệm.

...

...

...

CHÚ THÍCH 2: Sự bay hơi của chất điện phân trong quá trình chuẩn bị pin thử nghiệm thường được ngăn ngừa hoàn toàn theo quy trình thử nghiệm quy định, sao cho không có ảnh hưởng đến kết quả thử nghiệm. Pin được xử lý hầu như có tính năng giống với pin chưa qua xử lý ở cả dung lượng và điện trở.

Thư mục tài liệu tham khảo

[1] IEC 62133, Secondary cells and batteries containing alkaline or other non-acid electrolytes - Safety requirements for portable sealed secondary cells, and for batteries made from them, for use in portable applications

[2] IEC 62660-1, Pin lithium-ion thứ cấp dùng truyền lực cho phương tiện giao thông đường bộ chạy điện - Phần 1: Thử nghiệm tính năng

[3] IEC TR 62660-4, Pin lithium-ion thứ cấp dùng truyền lực cho phương tiện giao thông đường bộ chạy điện - Phần 4: Phương pháp thử nghiệm thay thế dùng cho thử nghiệm ngắn mạch bên trong của IEC 62660-3.

[4] IEC TR 62914, Secondary cells and batteries containing alkaline or other non-acid electrolytes - Experimental procedure for the forced internal short-circuit test of IEC 62133:2012

[5] ISO 12405-1, Road vehicles - Electrically propelled road vehicles - Test specification for lithium-ion battery packs and systems - Part 1: High power application

[6] ISO 12405-2, Road vehicles - Electrically propelled road vehicles - Test specification for lithium-ion battery packs and systems - Part 2: High anergy application that defines tests and related requirements for battery systems

...

...

...

[8] ISO 18243, Electrically propelled mopeds and motorcycles - Test specifications and safety requirements for lithium-ion battery systems

[9] UN ECE Regulation No. 100 (UN ECE R100), Uniform provisions concerning the approval of vehicles with regard to specific requirements for the electric power train (02 series of amendment of later)

MỤC LỤC

Lời nói đầu

1  Phạm vi áp dụng

2  Tài liệu viện dẫn

3  Thuật ngữ và định nghĩa

4  Điều kiện thử nghiệm

...

...

...

6  Thử nghiệm an toàn

Phụ lục A (tham khảo) - Vùng hoạt động của các pin để sử dụng an toàn

Phụ lục B (tham khảo) - Giải thích thử nghiệm ngắn mạch bên trong

Thư mục tài liệu tham khảo